Article (Périodiques scientifiques)
SESAME: A Model-Driven Test Selection Process for Safety-Critical Embedded Systems
GUELFI, Nicolas; RIES, Benoît
2008In ERCIM News, 75
Peer reviewed
 

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Mots-clés :
safety-critical; embedded systems; methodology; software engineering; test selection
Disciplines :
Sciences informatiques
Auteur, co-auteur :
GUELFI, Nicolas ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Computer Science and Communications Research Unit (CSC)
RIES, Benoît ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Computer Science and Communications Research Unit (CSC)
Langue du document :
Anglais
Titre :
SESAME: A Model-Driven Test Selection Process for Safety-Critical Embedded Systems
Date de publication/diffusion :
octobre 2008
Titre du périodique :
ERCIM News
ISSN :
0926-4981
Maison d'édition :
ERCIM, Sophia-Antipolis, France
Titre particulier du numéro :
Safety-Critical Software
Volume/Tome :
75
Peer reviewed :
Peer reviewed
Disponible sur ORBilu :
depuis le 07 mai 2013

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