Tomographic characterization of grain-size correlations in polycrystalline Al-Sn

Krill III, C. E.; Döbrich, K. M.; Michels, D.; MICHELS, Andreas; Rau, C.; Weitkamp, T.; Snigirev, A.; Birringer, R.; Bonse, U.

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Contribution à des ouvrages collectifs (Parties d’ouvrages)

Tomographic characterization of grain-size correlations in polycrystalline Al-Sn

Krill III, C. E.; Döbrich, K. M.; Michels, D. et al.

2002 • In Developments in X-Ray Tomography III

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https://hdl.handle.net/10993/547

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Détails

Disciplines :

Physique

Identifiants :

UNILU:UL-CHAPTER-2010-190

Auteur, co-auteur :

Krill III, C. E.

Döbrich, K. M.

Michels, D.

MICHELS, Andreas ; University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit

Rau, C.

Weitkamp, T.

Snigirev, A.

Birringer, R.

Bonse, U.

Langue du document :

Anglais

Titre :

Tomographic characterization of grain-size correlations in polycrystalline Al-Sn

Date de publication/diffusion :

2002

Titre de l'ouvrage principal :

Developments in X-Ray Tomography III

Maison d'édition :

The International Society for Optical Engineering

Pagination :

205-212

Peer reviewed :

Peer reviewed

Disponible sur ORBilu :

depuis le 23 avril 2013

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