Determination of minority carrier lifetime and reflectance for textured and chemically polished Si wafers

Autre (Rapports)

SINGH, Ajay

2013

Permalien
https://hdl.handle.net/10993/47938

BHEL_Determination of minority carrier lifetime and reflectance for textured.pdf

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Disciplines :

Physique

Auteur, co-auteur :

SINGH, Ajay ; University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Medicine (FSTM) > Department of Physics and Materials Science (DPHYMS)

Langue du document :

Anglais

Titre :

Determination of minority carrier lifetime and reflectance for textured and chemically polished Si wafers

Date de publication/diffusion :

2013

Focus Area :

Physics and Materials Science

Disponible sur ORBilu :

depuis le 01 septembre 2021

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