Article (Périodiques scientifiques)
Can we see defects in capacitance measurements of thin‐film solar cells ?
WERNER, Florian; BABBE, Finn; ELANZEERY, Hossam et al.
2019In Progress in Photovoltaics, 27, p. 1045–1058
Peer reviewed vérifié par ORBi
 

Documents


Texte intégral
2019_Can we see defects in capacitance measurements of thin‐film solar cells.pdf
Postprint Éditeur (2.18 MB)
Télécharger

Tous les documents dans ORBilu sont protégés par une licence d'utilisation.

Envoyer vers



Détails



Disciplines :
Physique
Auteur, co-auteur :
WERNER, Florian ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
BABBE, Finn ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
ELANZEERY, Hossam ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
SIEBENTRITT, Susanne ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
Co-auteurs externes :
yes
Langue du document :
Anglais
Titre :
Can we see defects in capacitance measurements of thin‐film solar cells ?
Date de publication/diffusion :
2019
Titre du périodique :
Progress in Photovoltaics
ISSN :
1062-7995
eISSN :
1099-159X
Maison d'édition :
John Wiley & Sons, Hoboken, Etats-Unis - New Jersey
Volume/Tome :
27
Pagination :
1045–1058.
Peer reviewed :
Peer reviewed vérifié par ORBi
Disponible sur ORBilu :
depuis le 01 décembre 2019

Statistiques


Nombre de vues
307 (dont 4 Unilu)
Nombre de téléchargements
157 (dont 2 Unilu)

citations Scopus®
 
21
citations Scopus®
sans auto-citations
20
OpenCitations
 
9
citations OpenAlex
 
23
citations WoS
 
21

Bibliographie


Publications similaires



Contacter ORBilu