Investigations on InAlAs/InGaAs OPFETs with different absorption layer thicknesses

MARSO, Michel; Gersdorf, P.; Fox, A.; Hodel, U.; Kordoš, P.

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Communication publiée dans un ouvrage (Colloques, congrès, conférences scientifiques et actes)

Investigations on InAlAs/InGaAs OPFETs with different absorption layer thicknesses

MARSO, Michel; Gersdorf, P.; Fox, A. et al.

1998 • In Proceedings of the 6th International Workshop on High Performance Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications (EDMO)

Permalien
https://hdl.handle.net/10993/20662

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Disciplines :

Ingénierie électrique & électronique

Identifiants :

UNILU:UL-CONFERENCE-2009-394

Auteur, co-auteur :

MARSO, Michel ; Institute of Thin Film and Ion Technology (ISI), Research Centre Jülich, D-52425 Jülich, Germany

Gersdorf, P.; Institute of Thin Film and Ion Technology (ISI), Research Centre Jülich, D-52425 Jülich, Germany

Fox, A.; Institute of Thin Film and Ion Technology (ISI), Research Centre Jülich, D-52425 Jülich, Germany

Hodel, U.; Institute of Thin Film and Ion Technology (ISI), Research Centre Jülich, D-52425 Jülich, Germany

Kordoš, P.; Institute of Thin Film and Ion Technology (ISI), Research Centre Jülich, D-52425 Jülich, Germany

Co-auteurs externes :

yes

Langue du document :

Anglais

Titre :

Investigations on InAlAs/InGaAs OPFETs with different absorption layer thicknesses

Date de publication/diffusion :

1998

Nom de la manifestation :

6th International Workshop on High Performance Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications (EDMO)

Date de la manifestation :

2008

Titre de l'ouvrage principal :

Proceedings of the 6th International Workshop on High Performance Electron Devices for Microwave and Optoelectronic Applications (EDMO)

ISBN/EAN :

0-7803-4333-6

Pagination :

105-110

Disponible sur ORBilu :

depuis le 29 mars 2015

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