Article (Périodiques scientifiques)
Defect Distribution along Single GaN Nanowhiskers
Cavallini, Anna; Polenta, Laura; Rossi, Marco et al.
2006In Nano Letters, 6 (7), p. 1548-1551
Peer reviewed vérifié par ORBi
 

Documents


Texte intégral
143_NL_6_2006_1548_1551.pdf
Postprint Éditeur (203.5 kB)
Demander un accès

Tous les documents dans ORBilu sont protégés par une licence d'utilisation.

Envoyer vers



Détails



Résumé :
[en] In this letter we report on spectral photoconductivity (PC) on different sections of single MBE-grown GaN nanowhiskers of diameters ranging on the order of 100 nm. The photoconductivity spectra show, besides the band-gap related transition, deep-levels corresponding to the yellow, green, and blue bands. A strong spatial localization of specific photocurrent peaks has been observed, indicating that the defects responsible for such transitions are distributed inhomogeneously along the column growth direction.
Disciplines :
Ingénierie électrique & électronique
Identifiants :
UNILU:UL-ARTICLE-2009-310
Auteur, co-auteur :
Cavallini, Anna;  Physics Department, University of Bologna, Viale Berti Pichat 6/2, 40127 Bologna, Italy
Polenta, Laura;  Physics Department, University of Bologna, Viale Berti Pichat 6/2, 40127 Bologna, Italy
Rossi, Marco;  Physics Department, University of Bologna, Viale Berti Pichat 6/2, 40127 Bologna, Italy
Richter, Thomas;  Institute of Thin Films and Interfaces (ISG1) and cni - Centre of Nanoelectronic Systems for Information Technology, Research Center Julich
MARSO, Michel ;  Institute of Thin Films and Interfaces (ISG1) and cni - Centre of Nanoelectronic Systems for Information Technology, Research Center Julich
Meijers, Ralph;  Institute of Thin Films and Interfaces (ISG1) and cni - Centre of Nanoelectronic Systems for Information Technology, Research Center Julich
Calarco, Raffaella;  Institute of Thin Films and Interfaces (ISG1) and cni - Centre of Nanoelectronic Systems for Information Technology, Research Center Julic
Lüth, Hans;  Institute of Thin Films and Interfaces (ISG1) and cni - Center of Nanoelectronic Systems for Information Technology, Research Centre Jülich, 52425 Jülich, Germany
Langue du document :
Anglais
Titre :
Defect Distribution along Single GaN Nanowhiskers
Date de publication/diffusion :
2006
Titre du périodique :
Nano Letters
ISSN :
1530-6984
eISSN :
1530-6992
Maison d'édition :
American Chemical Society
Volume/Tome :
6
Fascicule/Saison :
7
Pagination :
1548-1551
Peer reviewed :
Peer reviewed vérifié par ORBi
Disponible sur ORBilu :
depuis le 11 mars 2015

Statistiques


Nombre de vues
89 (dont 0 Unilu)
Nombre de téléchargements
0 (dont 0 Unilu)

citations Scopus®
 
40
citations Scopus®
sans auto-citations
24
OpenCitations
 
34
citations OpenAlex
 
39
citations WoS
 
36

Bibliographie


Publications similaires



Contacter ORBilu