Charge and doping distributions by capacitance profiling in Cu(In,Ga)Se2 solar cells

Cwil, Michael; Igalson, Malgorzata; Zabierowski, Powel; SIEBENTRITT, Susanne

doi:10.1063/1.2884708

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Article (Périodiques scientifiques)

Charge and doping distributions by capacitance profiling in Cu(In,Ga)Se2 solar cells

Cwil, Michael; Igalson, Malgorzata; Zabierowski, Powel et al.

2008 • In Journal of Applied Physics, 103, p. 063701-063701-9

Peer reviewed

Permalien
https://hdl.handle.net/10993/8632

DOI
10.1063/1.2884708

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Détails

Disciplines :

Physique

Identifiants :

UNILU:UL-ARTICLE-2009-491

Auteur, co-auteur :

Cwil, Michael

Igalson, Malgorzata

Zabierowski, Powel

SIEBENTRITT, Susanne ; University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit

Langue du document :

Anglais

Titre :

Charge and doping distributions by capacitance profiling in Cu(In,Ga)Se2 solar cells

Date de publication/diffusion :

2008

Titre du périodique :

Journal of Applied Physics

ISSN :

0021-8979

Maison d'édition :

American Institute of Physics

Volume/Tome :

103

Pagination :

063701-063701-9

Peer reviewed :

Peer reviewed

URL complémentaire :

http://link.aip.org/link/?JAPIAU/103/063701/1

Disponible sur ORBilu :

depuis le 15 octobre 2013

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