Article (Périodiques scientifiques)
Optical Measurement of the Stoichiometry of Thin-Film Compounds Synthetized From Multilayers: Example of Cu(In,Ga)Se2
GONCALINHO POEIRA, Ricardo Jorge; DALE, Phillip; SIOPA, Daniel et al.
2023In Microscopy and Microanalysis, 29 (6), p. 1847-1855
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2023_Optical measurement of the stoichiometry of thin film compounds_ozad105.pdf
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Détails



Disciplines :
Physique
Auteur, co-auteur :
GONCALINHO POEIRA, Ricardo Jorge ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Medicine (FSTM) > Department of Physics and Materials Science (DPHYMS)
DALE, Phillip ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Medicine (FSTM) > Department of Physics and Materials Science (DPHYMS)
SIOPA, Daniel ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Medicine > Department of Physics and Materials Science > Team Phillip DALE
Anacleto, Pedro
Sadewasser, Sascha
Co-auteurs externes :
yes
Langue du document :
Anglais
Titre :
Optical Measurement of the Stoichiometry of Thin-Film Compounds Synthetized From Multilayers: Example of Cu(In,Ga)Se2
Date de publication/diffusion :
2023
Titre du périodique :
Microscopy and Microanalysis
ISSN :
1431-9276
eISSN :
1435-8115
Maison d'édition :
Cambridge University Press, Royaume-Uni
Volume/Tome :
29
Fascicule/Saison :
6
Pagination :
1847-1855
Peer reviewed :
Peer reviewed vérifié par ORBi
Projet FnR :
PRIDE17/12246511/ PACE
Intitulé du projet de recherche :
Photovoltaics: Advanced Concepts for high Efficiency
Disponible sur ORBilu :
depuis le 08 janvier 2024

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