Article (Périodiques scientifiques)
Eigenvalue-Based Multiple Antenna Spectrum Sensing: Higher Order Moments
SEDIGHI, Saeid; Taherpour, Abbas; Gazor, Saeed et al.
2017In IEEE Transactions on Wireless Communications, 16 (2), p. 1168–1184
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Mots-clés :
Cognitive radio; spectrum sensing
Résumé :
[en] The problem of multiple antenna spectrum sensing in cognitive radio (CR) networks is studied in this paper. We propose two new invariant constant false-alarm rate eigenvalue-based (EVB) detectors, using the higher order moments of the sample covariance matrix eigenvalues, by exploiting the separating function estimation test framework. We find closed-form expressions for the false-alarm and detection probabilities of the proposed detectors by providing moment-based approximations of their statistical distributions. The accuracy of the obtained closed-form expressions is validated by Monte Carlo simulations. In addition, we compare the performance of the proposed detectors with that of their two counterparts, i.e., John’s and the arithmetic to geometric mean (AGM) detectors, in terms of the asymptotic relative efficiency. This comparison enables us to demonstrate the superiority of our proposed detectors over those detectors within the typical range of signalto-noise ratio in CR application. The comparative simulation results also illustrate the superiority of the proposed detectors over John’s and the AGM detectors as well as some other state-of-the-art EVB algorithms given in the literature.
Disciplines :
Ingénierie électrique & électronique
Auteur, co-auteur :
SEDIGHI, Saeid ;  University of Luxembourg > Interdisciplinary Centre for Security, Reliability and Trust (SNT) > SigCom
Taherpour, Abbas
Gazor, Saeed
Khattab, Tamer
Co-auteurs externes :
yes
Langue du document :
Anglais
Titre :
Eigenvalue-Based Multiple Antenna Spectrum Sensing: Higher Order Moments
Date de publication/diffusion :
2017
Titre du périodique :
IEEE Transactions on Wireless Communications
ISSN :
1536-1276
eISSN :
1558-2248
Maison d'édition :
Institute of Electrical and Electronics Engineers, New York, Etats-Unis - New York
Volume/Tome :
16
Fascicule/Saison :
2
Pagination :
1168–1184
Peer reviewed :
Peer reviewed vérifié par ORBi
Disponible sur ORBilu :
depuis le 04 juillet 2021

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