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Article (Périodiques scientifiques)
Identifying the Real Minority Carrier Lifetime in Nonideal Semiconductors: A Case Study of Kesterite Materials
Hages, Charles J.; REDINGER, Alex; Levcenko, Sergiu et al.
2017 • In Advanced Energy Materials
Peer reviewed vérifié par ORBi
Permalien
https://hdl.handle.net/10993/33036
DOI
10.1002/aenm.201700167
 

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Identifying the Real Minority Carrier Lifetime in Nonideal Semiconductors.pdf
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Détails


Disciplines :
Physique
Auteur, co-auteur :
Hages, Charles J.
REDINGER, Alex ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
Levcenko, Sergiu
Hempel, Hannes
Koeper, Mark J.
Agrawal, Rakesh
Greier, Dieter
Kaufmann, Christian A.
Unold, Thomas
Co-auteurs externes :
yes
Langue du document :
Anglais
Titre :
Identifying the Real Minority Carrier Lifetime in Nonideal Semiconductors: A Case Study of Kesterite Materials
Date de publication/diffusion :
2017
Titre du périodique :
Advanced Energy Materials
ISSN :
1614-6832
eISSN :
1614-6840
Maison d'édition :
Wiley, Weinheim, Allemagne
Peer reviewed :
Peer reviewed vérifié par ORBi
Focus Area :
Physics and Materials Science
Disponible sur ORBilu :
depuis le 15 novembre 2017

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