Communication publiée dans un ouvrage (Colloques, congrès, conférences scientifiques et actes)
Speeding-Up Mutation Testing via Data Compression and State Infection
Zhu, Qianqian; PANICHELLA, Annibale; Zaidman, Andy
2017In IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW) 2017
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Mots-clés :
Mutation Testing; Formal Concept Analysis
Résumé :
[en] Mutation testing is widely considered as a high-end test criterion due to the vast number of mutants it generates. Although many efforts have been made to reduce the computational cost of mutation testing, its scalability issue remains in practice. In this paper, we introduce a novel method to speed up mutation testing based on state infection information. In addition to filtering out uninfected test executions, we further select a subset of mutants and a subset of test cases to run leveraging data-compression techniques. In particular, we adopt Formal Concept Analysis (FCA) to group similar mutants together and then select test cases to cover these mutants. To evaluate our method, we conducted an experimental study on six open source Java projects. We used EvoSuite to automatically generate test cases and to collect mutation data. The initial results show that our method can reduce the execution time by 83.93% with only 0.257% loss in precision.
Disciplines :
Sciences informatiques
Auteur, co-auteur :
Zhu, Qianqian;  Delft University of Technology > EWI
PANICHELLA, Annibale ;  University of Luxembourg > Interdisciplinary Centre for Security, Reliability and Trust (SNT)
Zaidman, Andy;  Delft University of Technology > EWI
Co-auteurs externes :
yes
Langue du document :
Anglais
Titre :
Speeding-Up Mutation Testing via Data Compression and State Infection
Date de publication/diffusion :
13 mars 2017
Nom de la manifestation :
IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW)
Lieu de la manifestation :
Tokyo, Japon
Date de la manifestation :
from 13-03-2017 to 17-03-2017
Manifestation à portée :
International
Titre de l'ouvrage principal :
IEEE International Conference on Software Testing, Verification and Validation Workshops (ICSTW) 2017
Maison d'édition :
IEEE
ISBN/EAN :
978-1-5090-6676-6
Pagination :
103-109
Peer reviewed :
Peer reviewed
Focus Area :
Security, Reliability and Trust
Disponible sur ORBilu :
depuis le 27 avril 2017

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