Atom probe tomography study of internal interfaces in Cu2ZnSnSe4 thin-films

Schwarz, T.; Cojocaru-Mir edin, O.; Choi, P.; MOUSEL, Marina; REDINGER, Alex; SIEBENTRITT, Susanne; Raabe, D.

doi:10.1063/1.4929874

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Article (Périodiques scientifiques)

Atom probe tomography study of internal interfaces in Cu2ZnSnSe4 thin-films

Schwarz, T.; Cojocaru-Mir edin, O.; Choi, P. et al.

2015 • In Journal of Applied Physics, 118, p. 095302 1-10

Peer reviewed vérifié par ORBi

Permalien
https://hdl.handle.net/10993/21958

DOI
10.1063/1.4929874

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Détails

Disciplines :

Physique

Auteur, co-auteur :

Schwarz, T.; Max-Planck-Institut fur Eisenforschung GmbH, Germany

Cojocaru-Mir edin, O.; Max-Planck-Institut fur Eisenforschung GmbH, Germany

Choi, P.; Max-Planck-Institut fur Eisenforschung GmbH, Germany

MOUSEL, Marina ; University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit

REDINGER, Alex ; University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit

SIEBENTRITT, Susanne ; University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit

Raabe, D.; Max-Planck-Institut fur Eisenforschung GmbH, Germany

Co-auteurs externes :

yes

Langue du document :

Anglais

Titre :

Atom probe tomography study of internal interfaces in Cu2ZnSnSe4 thin-films

Date de publication/diffusion :

2015

Titre du périodique :

Journal of Applied Physics

ISSN :

0021-8979

eISSN :

1089-7550

Maison d'édition :

American Institute of Physics, Melville, Etats-Unis - New York

Volume/Tome :

118

Pagination :

095302 1-10

Peer reviewed :

Peer reviewed vérifié par ORBi

Disponible sur ORBilu :

depuis le 10 septembre 2015

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