Article (Périodiques scientifiques)
Direct Evaluation of Defect Distributions From Admittance Spectroscopy
WEISS, Thomas; REDINGER, Alex; REGESCH, David et al.
2014In IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS, 4
Peer reviewed
 

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direct evalution of defect distributions from admittance spectroscopy_weiss-redinger-regesch-mousel-siebentritt_2014.pdf
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Détails



Disciplines :
Physique
Auteur, co-auteur :
WEISS, Thomas ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
REDINGER, Alex ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
REGESCH, David ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
MOUSEL, Marina ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
SIEBENTRITT, Susanne ;  University of Luxembourg > Faculty of Science, Technology and Communication (FSTC) > Physics and Materials Science Research Unit
Langue du document :
Anglais
Titre :
Direct Evaluation of Defect Distributions From Admittance Spectroscopy
Date de publication/diffusion :
2014
Titre du périodique :
IEEE JOURNAL OF PHOTOVOLTAICS
Volume/Tome :
4
Peer reviewed :
Peer reviewed
Disponible sur ORBilu :
depuis le 06 novembre 2014

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