Article (Périodiques scientifiques)
Raman imaging of doping domains in graphene on SiO(2)
Stampfer, C.; Molitor, F.; Graf, D. et al.
2007In Applied Physics Letters, 91 (24)
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Résumé :
[en] We present spatially resolved Raman images of the G and 2D lines of single-layer graphene flakes. The spatial fluctuations of G and 2D lines are correlated and are thus shown to be affiliated with local doping domains. We investigate the position of the 2D line-the most significant Raman peak to identify single-layer graphene-as a function of charging up to vertical bar n vertical bar approximate to 4x10(12) cm(-2). Contrary to the G line which exhibits a strong and symmetric stiffening with respect to electron and hole doping, the 2D line shows a weak and slightly asymmetric stiffening for low doping. Additionally, the linewidth of the 2D line is, in contrast to the G line, doping independent making this quantity a reliable measure for identifying single-layer graphene. (C) 2007 American Institute of Physics.
Disciplines :
Physique
Auteur, co-auteur :
Stampfer, C.;  ETH Zurich > Solid State Physics Laboratory
Molitor, F.;  ETH Zurich > Solid State Physics Laboratory
Graf, D.;  ETH Zurich > Solid State Physics Laboratory
Ensslin, K.;  ETH Zurich > Solid State Physics Laboratory
Jungen, A.;  ETH Zurich > Micro and Nanosystems
Hierold, C.;  ETH Zurich > Micro and Nanosystems
WIRTZ, Ludger ;  Institute for Electronics, Microelectronics, and Nanotechnology (CNRS UMR-8520), Department ISEN, Villeneuve d’Ascq, France / European Theoretical Spectroscopy Facility (ETSF), San Sebastián, Spain
Langue du document :
Anglais
Titre :
Raman imaging of doping domains in graphene on SiO(2)
Date de publication/diffusion :
2007
Titre du périodique :
Applied Physics Letters
ISSN :
0003-6951
Maison d'édition :
American Institute of Physics, Melville, Etats-Unis - New York
Volume/Tome :
91
Fascicule/Saison :
24
Peer reviewed :
Peer reviewed
Disponible sur ORBilu :
depuis le 12 novembre 2013

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